FPL-3230透反射偏光顯微鏡
FPL-3230
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FPL-3230透反射偏光顯微鏡概述
FPL-3230透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物（wù）質進行（háng）研究鑒定的必備儀器,可供廣大用戶進行單偏光觀（guān）察，正交偏光觀察，錐光觀察。廣泛應用於地質、化工、醫療、藥品等（děng）領（lǐng）域的研究與檢驗，也可進（jìn）行液態高分子材料，生（shēng）物聚合物及（jí）液晶材料的晶相觀察，是科研機構與高等院校進行研究與教學的理想儀器。
FPL-3230透反（fǎn）射偏（piān）光顯微鏡性（xìng）能特（tè）點
▲ 采用（yòng）無限遠光學係統及模（mó）塊化功能設計。
▲ 配置無窮遠無應力長（zhǎng）工作（zuò）距離平場物鏡（jìng）。
▲ 鉸鏈式（shì）觀察筒：三目觀（guān）察（chá）筒，單視度可（kě）調，鏡筒（tǒng）30°傾斜，可進（jìn）行100%透光攝影，可連（lián）接攝像裝置。
▲ 目鏡：WF10X大視野平場目鏡，視場範圍φ22mm，提（tí）供了寬闊平坦的觀察空間。
▲ 物鏡：無應力平場消色差物鏡（無蓋玻），物鏡中心可調，可確保物鏡中心和旋轉載物台中心重合（hé）。
▲ 粗微動同軸調焦機構，粗動（dòng）鬆緊可調（diào），帶限（xiàn）位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
▲ 偏光（guāng）觀察裝置可移入或移出光路，起偏器與檢偏（piān）器均可360°旋轉。
▲ 旋轉式（shì）載物台，360°等分刻度,遊標格值6'，中心可調，帶鎖緊裝置，工作台垂直有效（xiào）行（háng）程可達 30mm。
▲ 寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 6V30W鹵素燈照明，亮度可調。
▲推拉式檢偏器：可360°旋轉（zhuǎn），帶刻度和微動遊標。
▲中間接筒：內置推入式勃（bó）氏鏡，中心可調。
▲載物台：旋（xuán）轉式載物台，360°等分刻度，遊標格（gé）值6'，中心可調（diào），帶鎖緊裝置，工作台垂直有效行程可達30mm。
▲透射照明係（xì）統：6V30W鹵素燈，亮度可（kě）調。可（kě）提供明亮清晰的視場效果。
▲起偏器（qì），360°偏振方向旋轉，有0、90、180、270、四個檔位，置（zhì）於孔徑光闌下方。
▲落射照明係統（tǒng）：6V30W鹵素燈，亮度可調。內置視場光（guāng）闌，孔徑光（guāng）闌。推拉式起偏器360°旋轉。簡易（yì）快捷的（de）燈泡更換方式（shì），不（bú）需要任何工具便可實現燈泡更換（huàn）
FPL-3230透反射偏光顯微鏡技術參數
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目鏡 |
大視（shì）野 WF10X(Φ22mm) |
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分化目鏡10X(視場數Φ22mm) 格值0.10mm/格 |
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無應力平場消色差物鏡(無蓋玻片（piàn）) |
PL L5X/0.12 工作距離：26.1 mm |
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PL L10X/0.25 工（gōng）作距離：20.2 mm |
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PL L40X/0.60（彈簧） 工作（zuò）距離：3.98 mm |
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PL L60X/0.75（彈簧） 工作距離：2.03 mm |
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落射（shè）照明係統 |
6V30W鹵素燈，亮（liàng）度可調 |
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起偏器可（kě）360°旋轉（zhuǎn） |
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檢偏器可360˚旋轉,帶刻度和微動遊標, |
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內置視場與孔（kǒng）徑光闌 |
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轉換器 |
四孔(轉換器中心可調) |
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中間（jiān）接筒 |
推入式勃氏鏡 |
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補償器 |
λ , λ/4與石英鍥補償器 |
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調焦機（jī）構 |
粗微動同（tóng）軸調焦,帶鎖緊（jǐn）和限位裝置,微（wēi）動（dòng）格值:2μm |
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攝像（xiàng） |
FEG係列,索尼芯片1200萬像素相機 |
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適配 |
0.65X適配鏡C接口 |
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軟件（jiàn） |
專業版岩石偏光軟件 |
岩石（shí）(偏光)軟（ruǎn）件》
圖像（xiàng）分析
【 1 】粒度分析（手工測量直徑法）………SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009
l 用拖動鼠標的方式，測量出顆（kē）粒直徑；算出最大、最小、平均直徑；自動（dòng）生成累積曲（qǔ）線（調整）、累積曲線（線性）、直方圖、頻率曲線等4種曲線；可保存和載入測量過程。
l 分析界麵
l 測量截圖
l 分析數（shù）據
l 數（shù）據統計圖
（將當前的工作保存為一個文（wén）件）
【 2 】孔隙特征分析（手工測量麵積法）………SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009
l 用鼠（shǔ）標拖動的方式，圈出孔隙部分，得到孔隙麵積，軟件自動算出孔隙率；可（kě）保存和載入測量過程。
l 分析界麵
l 測量過（guò）程截（jié）圖
（將當前（qián）的工作保（bǎo）存為（wéi）一個文件）
【 3 】岩石薄片粒度分析（自動計（jì）算）……SS/YS 03-2003
l 用鼠標在圖上選取需要分析顆粒的顏色，可以選擇6種顏色，然後設置搜索參數，搜索出想要的顆（kē）粒，並算出顆粒百分比；同時算出顆粒總數、顆粒平均直徑、平均截麵積、平均截距、弗裏特直徑、最小直（zhí）徑、最大直徑、平均短軸長，長寬比>0.5的顆粒比等數據。
l 分析界麵
l 在（zài）圖像上（shàng）點擊進行（háng）取色
l 根據需求對圖像進行相應處理
l 點擊“顆粒分析”對圖像進行分析
l 分析數據
【 4 】鑄體薄（báo）片（piàn）孔隙特征分析（自動計算１）…SS/YS 04-2003
l 用鼠標在圖上選取孔（kǒng）隙的顏色，然（rán）後（hòu）設置搜索（suǒ）參數，搜索出想要的孔隙，軟件將自動算出孔隙率；並自動算出孔（kǒng）隙總數、最大孔隙半徑、最小孔（kǒng）隙半徑、平均孔隙半徑等值。
l 分析界麵（miàn）
l 分析數據
【 5 】鑄體薄（báo）片孔隙（xì）特征分析（自動計算２）…SS/YS 05-2005
l 用鼠標在圖上選取孔隙的顏色，然後設置搜索參數，搜索出孔隙，軟件將自動算出孔隙率值，同時算出孔隙總數、最大孔隙半徑、最小孔隙半徑、平（píng）均孔隙（xì）半徑等值。
l 分析界麵
【 6 】鑄（zhù）體薄片孔（kǒng）隙特征分析…SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009
l 用鼠標（biāo）在圖上選取（qǔ）孔隙的顏色，然後（hòu）設置搜（sōu）索參數，搜索出孔隙，軟件將自動算（suàn）出孔隙率值，同時算出孔隙總數、最大孔隙半（bàn）徑、最小孔隙半徑、平均孔隙半徑等值。
l 軟件界麵
l 分析出的數據
【 7 】金剛石圖像分析（自動計算）……………SS/YS 01-2006
用（yòng）鼠標在圖上選取顏色，然後設置搜索參數，搜索出（chū）金剛石顆粒，軟件自動
算出金剛石的麵積百分比，同時算（suàn）出（chū）孔隙總數、最大孔隙（xì）半徑、最小孔隙半徑、平均孔隙半徑等值。
l 軟件界（jiè）麵。
l 在圖像上點擊進行取色。
l 根據需求，對圖片進行相應處理。
l 點擊“顆粒分析”，對圖像進行分析。
l 分析數據。
【 8 】粒度分析（顏色提取法）……SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009
l 用鼠標在圖上選取需要分析顆粒的顏色，可（kě）以選擇6種顏色，然後設置（zhì）搜索參數，搜索（suǒ）出（chū）想要的（de）顆粒，並（bìng）算出顆粒百（bǎi）分比，同時算出顆粒（lì）總數、平均直徑、平均截麵積、平均（jun1）截（jié）距（jù）、弗裏特直徑等值。
l 軟件界麵。
l 分析數據
【 9 】孔（kǒng）隙特（tè）征分析（顏色提取法（fǎ））…SY/T 6103-2004 & SY/T 5434-2009
l 用鼠標在圖上選取孔隙顏色，可以選擇6種顏色，然後設（shè）置搜索參（cān）數，搜索出想要的孔隙，並算出（chū）孔隙率，同時算出孔隙總數、最大孔隙半徑、最小孔隙（xì）半徑、平均孔隙半徑等值（zhí）。
l 分（fèn）析界麵
l 在圖像上進行點擊進行取色。
l 根（gēn）據需求對圖片進（jìn）行處理。
l 點擊“孔隙分析”按（àn）鈕對圖片進行分析。
【10】礦物成分百分比測定（圖像分析）…SS/YS 10-2007
l 用鼠標選擇8種成分的顏色，並設置每種（zhǒng）成分的容（róng）差（chà），軟件根據該數據，在圖上搜索出對（duì）應組織，並算出麵積（jī）和麵積百分比。可分析單圖，也可分析指定（dìng）目錄下的所有圖像。
l 分析界麵
l 點擊相應成分（fèn），在圖中進行取色。
l 點擊“單圖計算”按鈕進行分析。
l 數據列表
【11】礦物成分百分比測定（魔術棒（bàng））…SS/YS 01-2008
l 用魔術棒在岩石圖像上選擇需要分析的（de）組織，算出麵積和麵積（jī）百分（fèn）比。
l 分析界（jiè）麵
l 分析數據列（liè）表
【12】礦物成分百分比測定（圖像分析２）…SS/YS 02-2008
l 可用鼠標選擇8種成分的顏（yán）色，並設置每種成分（fèn）的（de）容差，軟件根據（jù）該數據（jù），在圖上搜索（suǒ）出對應（yīng）的組織，並算出麵積和麵積百分比。
l 分析界麵
l 點擊相應成分，在（zài）圖中進行取色。
l 點擊（jī）“圖像分析”按鈕，對圖片進行分析
l 分析數據列表
